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有害元素檢測儀EDX1800B天瑞XRF測試儀

更新時(shí)間1:2025-09-21 信息編號:0aehtmt2eb1c9 舉報維權
有害元素檢測儀EDX1800B天瑞XRF測試儀
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供應商 江蘇天瑞儀器股份有限公司 店鋪
認證
報價(jià) 面議
關(guān)鍵詞 國產(chǎn)XRF光譜儀,天瑞XRF分析儀,天瑞XRF光譜儀,天瑞XRF儀器
所在地 江蘇蘇州昆山市中華園西路1888號
孫經(jīng)理
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9年

產(chǎn)品詳細介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司介紹

產(chǎn)品功能:
1.具有遠程診斷功能說(shuō)明:我們軟件集成了常用的DCS系統的通訊協(xié)議,如TCP/IP,OPC,ModBus,RS232/485等,可與工廠(chǎng)的配料系統的控制中心或PLC進(jìn)行數據交換,即可向配料系統傳送分析數據,也可傳送配比數據。實(shí)現在線(xiàn)數據分析、在線(xiàn)質(zhì)量。
2.具有技術(shù)的,快速,安全,性能可靠而實(shí)用的樣品裝卸系統
3.搖臂式設計的樣品裝卸系統,完善的粉末保護方式,預真空室和限定位置機構,實(shí)現高度重現性,無(wú)故障,快速穩定。1000W光路設計示意圖,

X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金屬含量測試(鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等)、包裝物料的有元素測試、EN71,測試結果度高。X熒光光譜儀的檢測結果可以和化學(xué)檢測媲美,還大大節省儀器購置成本、使用成本和檢測時(shí)間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導綠色生產(chǎn)過(guò)程中的檢測工具。

x熒光光譜儀樣品種類(lèi)樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
(1)固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等,其中金屬材料占了很大的比例。
(2)粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品,水泥及其原材料,金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等;還有巖石土壤等。
(3)液體樣品油類(lèi)產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過(guò)化學(xué)方法將固體轉換成的溶液等

x熒光光譜儀使用中常見(jiàn)的問(wèn)題及注意事項
1、過(guò)濾時(shí)有時(shí)會(huì )出現流動(dòng)相漏液??赡艿脑蚴菫V膜放置不正確和接頭有點(diǎn)錯位,導致流動(dòng)相從縫隙中漏出。
注意:操作時(shí),應先向濾瓶?jì)鹊谷肷倭苛鲃?dòng)相,觀(guān)察是否漏液并開(kāi)始過(guò)濾,若未漏液,再向濾瓶中添加流動(dòng)相。
2、超聲時(shí),瓶外液體的液面應瓶?jì)攘鲃?dòng)相的液面,否則流動(dòng)相內的氣體可能無(wú)法排出液體,氣體仍然殘留在流動(dòng)相內,以致開(kāi)機排氣時(shí)無(wú)氣泡排出。
3、開(kāi)機排氣結束后,應先將流動(dòng)相流量調小,再關(guān)閉排氣閥,否則會(huì )導致柱壓瞬間升高超過(guò)壓力上限,致使泵停止工作。
4、反相LC液相色譜儀沖洗柱子時(shí),應盡量避免使用純水流動(dòng)相沖洗柱子,因為水性強,會(huì )損害色譜柱,導致柱效下降。
5、沖洗色譜柱時(shí),還可以不同比例的混合流動(dòng)相沖洗色譜柱,以沖出不同性的殘留物質(zhì),但還是要用純有機流動(dòng)相沖洗色譜柱一段時(shí)間。
6、在實(shí)驗過(guò)程中會(huì )出現壓力超過(guò)上限或壓力偏高,有可能是柱內有殘留物質(zhì)未被沖出,此時(shí)應用較大流速的有機流動(dòng)相充分沖洗色譜柱。若條件允許,也可采用梯度洗脫的方式?jīng)_洗色譜柱。壓力過(guò)高也有可能是濾頭堵塞,此時(shí)可將濾頭取出放到中超聲。
7、若隔天或更長(cháng)時(shí)間不使用LC液相色譜儀,應將兩流動(dòng)相瓶中均倒入純的有機流動(dòng)相(因為水流動(dòng)相長(cháng)時(shí)間不用會(huì )滋生,污染濾頭和色譜柱,導致下次開(kāi)機使用時(shí)會(huì )出現鬼峰,基線(xiàn)不穩)。
8、進(jìn)樣時(shí)所進(jìn)樣品的體積應不小于色譜柱的容積,且進(jìn)樣時(shí)器里的氣泡一定要排出,不可將氣泡打進(jìn)色譜柱。

X熒光光譜儀粉末樣品誤差主要來(lái)源:
(1) 粒度效應 粉末樣品粒度效應是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來(lái)說(shuō),被分析樣品的粒度越小,熒光強度越高,輕元素尤甚。原子序數越小,對粒度越敏感;同一元素粒度越小,制樣穩定性越好。一般要求粒度小于200 目。
(2) 偏析 偏析是指組分元素在樣品中分布的差異。偏析有兩種:粒間偏析:粉末顆粒A 和B 之間混合不均勻;元素偏析:元素分布對粒度分布的非勻質(zhì)性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情況下仍不能解決,可用其它制樣手段,如熔融,溶解等。
(3)礦物效應 由于礦物的化學(xué)結構或微觀(guān)晶體形態(tài)不同,含量相同的同一元素在不同的礦物中,它們的熒光強度會(huì )有很大的差異。所謂的礦物效應不單是針對礦物,在粉末樣品的X 熒光光譜儀分析中有著(zhù)更廣泛的含義。

將X射線(xiàn)熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項技術(shù)的到之處在于:通過(guò)巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來(lái)識別巖性,再通過(guò)巖性的組合特征分析來(lái)判斷層位,因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
真空形成條件及高靈敏半導體探測器保障對巖心中的元素具有的檢出限,為錄井平臺提供更有意義的具體數據特征;更寬的元素檢出范圍滿(mǎn)足多種元素的同時(shí)檢測需求;同時(shí)引入了目前的4096道數字多道技術(shù),采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線(xiàn)管,使儀器計數率更高,穩定性更好,適用面更廣;
優(yōu)化了光路結構、軟硬件可靠性,真空腔體使之性能更好、更便攜;
特的抗震性設計,高保護光路設計使得該儀器通過(guò)了第三方機構高低溫、高低頻電動(dòng)振動(dòng)及濕熱等使用認證;
在現場(chǎng)測試、在線(xiàn)檢測以及各類(lèi)地質(zhì)勘察多元素檢測中充分發(fā)揮作用。

所屬分類(lèi):光學(xué)儀器/光譜儀

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