元素范圍從硫到鈾分析時(shí)間30S分析精度5%分析范圍0~50微米儀器重量90kg

X熒光測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定。它能檢測出常見(jiàn)金屬鍍層厚度，無(wú)需樣品預處理；分析時(shí)間短，僅為數十秒；即可分析出各金屬鍍層的厚度，分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法，屬于物理分析方法。當鍍層樣品在受到X射線(xiàn)照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì )發(fā)射出各自的特征X射線(xiàn)，探測器探測到這些特征X射線(xiàn)后，將其光轉變?yōu)槟M；經(jīng)過(guò)模擬數字變換器將模擬轉換為數字并送入計算機進(jìn)行處理；計算機的應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過(guò)數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類(lèi)及各元素的鍍層厚度。
我公司集中了國內的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開(kāi)發(fā)及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠多年的科學(xué)研究，總結多年的現場(chǎng)應用實(shí)踐經(jīng)驗，結合的特色，開(kāi)發(fā)生產(chǎn)出的X熒光測厚儀具有快速、準確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)。
我公司新研制的X熒光測厚儀，廣泛用于用于鍍層厚度的測量、電鍍液厚度的測量。
1. 儀器特點(diǎn)：
? 同時(shí)分析元素周期表中由鈦（Ti）以上元素的鍍層厚度；
? 可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度；
? 無(wú)需復雜的樣品預處理過(guò)程；分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.01M到60M ；
? 采用的探測器技術(shù)及的處理線(xiàn)路，處理速度快，精度高，穩定可靠；
? 采用正高壓激發(fā)的微聚焦的X光管，激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數碼控制與顯示；
? 采用彩色攝像頭，準確觀(guān)察樣品并可拍照保存樣品圖像；
? 采用電動(dòng)控制樣品平臺，可以進(jìn)行X-Y-Z的，準確方便；
? 采用雙激光對焦系統，準確定位測量位置；
? 度高，穩定性好，故障率低；
? 采用多層屏蔽保護，安全性可靠；
? WINDOWS XP 中文應用軟件，特的分析方法，完備強大的功能，操作簡(jiǎn)單，使用方便, 分析結果存入標準ACCESS數據庫；
2、儀器的技術(shù)特性
2.1 X-Y-Z樣品平臺裝置
X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺裝置具有可容納各種形態(tài)被測樣品的樣品室。
樣品種類(lèi)：各種形狀的鍍層樣品，及電鍍液體樣品。
平臺：X-Y-Z采用電動(dòng)方式，實(shí)用方便。

設計亮點(diǎn)
上照式設計，可適應更多異型微小樣品的測試。相較傳統光路，信號采集效率提升以上?？勺兘垢呔珨z像頭，搭配距離補正系統，滿(mǎn)足微小產(chǎn)品，臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求?？删幊套詣?dòng)位移平臺，微小密集型可多點(diǎn)測試，大大提高測樣效率。自帶數據校對系統。

X-Y-Z樣品平臺移動(dòng)裝置
X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺移動(dòng)裝置具有可容納各種形態(tài)被測樣品的樣品室。
樣品種類(lèi)：各種形狀的鍍層樣品，及電鍍液體樣品。
平臺移動(dòng)：X-Y-Z移動(dòng)采用電動(dòng)方式，實(shí)用方便。

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