常見(jiàn)的有色金屬礦石檢測設備包括：
1. X射線(xiàn)熒光光譜儀：通過(guò)測量礦石中元素發(fā)射的特定X射線(xiàn)能譜，確定礦石中金屬元素的含量和比例。
2. 感應耦合等離子體質(zhì)譜儀：利用等離子體產(chǎn)生的高溫和離子化的條件，對礦石樣品進(jìn)行離子化和分析，以測量金屬元素的含量和比例。
3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。

有色金屬礦石分析儀A-4000可對各種礦石進(jìn)行多元素分析，廣泛應用于各類(lèi)礦石的檢測和分析，還應用于礦渣精煉分析及考古研究。礦石分析儀INNOV-X ALPHA-4000包括銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、釩礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實(shí)心體、碎片、過(guò)濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。

分析儀可以用來(lái)對各種不同類(lèi)型的礦石進(jìn)行現場(chǎng)分析。通過(guò)現場(chǎng)測試的成熟的X射線(xiàn)管分析系統，無(wú)輻射性同位素，現場(chǎng)分析時(shí)能做出快速而全面的礦石類(lèi)型研究，對樣品要求低，但是測試結果準確，能準確分析高濃度樣品，避免了驗證性的實(shí)驗室測試。

·使用了的和多用途的x射線(xiàn)資料模式：采用康普頓常態(tài)化校正方法：可以利用“內部標準”來(lái)進(jìn)行定量分析，而不需要進(jìn)行的校正?；緟担翰捎冒攵糠治龇绞?，適合于檢驗各種不同元素的構成的結構密度不均勻的樣品。實(shí)驗校正法：利用“校正曲線(xiàn)”進(jìn)行校正，允許使用用戶(hù)產(chǎn)生的校正曲線(xiàn)。
·可以很容易地加入新的元素成份，很容易進(jìn)行校正。因此，Innov-X a-4000分析儀能夠滿(mǎn)足您當前和未來(lái)的需求。
·可以在顯示熒幕上觀(guān)看光譜。
·通過(guò)對比光譜進(jìn)行對比分析，顯示出分析結果，分析結果將反映是否符合相應標準的情況。
·通過(guò)更新參數或更換模式，可以利用存儲的試驗結果再次進(jìn)行新的試驗。
·資料安全性：資料以二進(jìn)位格式存儲于設備中，以資料的完整性。

近紅外光譜區域
由于不同的物質(zhì)含有不同的基團，不同的基團有不同的能級，不同的基團或同一基團在不同物理化學(xué)環(huán)境中對近紅外光的吸收波長(cháng)都有明顯差別，且吸收系數小，發(fā)熱少，因此近紅外光譜可作為獲取信息的一種有效的載體。近紅外光照射時(shí)，頻率相同的光線(xiàn)和基團將發(fā)生共振現象，光的能量通過(guò)分子偶極矩的變化傳遞給分子；而如果近紅外光的頻率和樣品的振動(dòng)頻率不相同，該頻率的紅外光就不會(huì )被吸收。因此，選用連續改變頻率的近紅外光照射某樣品時(shí)，由于試樣對不同頻率近紅外光的選擇性吸收，通過(guò)試樣反射后的近紅外光線(xiàn)在某些波長(cháng)范圍內會(huì )變弱，這樣紅外光線(xiàn)就攜帶樣品組分和結構的信息。通過(guò)檢測器分析反射光線(xiàn)的光密度，就可以確定該組分的含量。

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