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洛陽(yáng)回收陀螺儀IC收購東芝閃存

更新時(shí)間1:2025-09-21 信息編號:b31s2cpvp0b509 舉報維權
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供應商 深圳市龍崗區銀源電子商行 店鋪
認證
報價(jià) 人民幣 999.00元每件
關(guān)鍵詞 回收內存,回收陀螺儀IC,收購東芝閃存,收購顯示器
所在地 廣東深圳市龍崗區
王生
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3年

產(chǎn)品詳細介紹

洛陽(yáng)回收陀螺儀IC 收購東芝閃存

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洛陽(yáng)回收陀螺儀IC 收購東芝閃存

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洛陽(yáng)回收陀螺儀IC 收購東芝閃存
半導體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環(huán)節的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內容,主要集中在WAT,CP和FT三個(gè)環(huán)節。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過(guò)電性參數來(lái)監控各步工藝是否正常和穩定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠(chǎng)出貨到封測廠(chǎng)的依據,測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動(dòng)控制測試位置和內容,測完某條TestKey后,ProbeCard會(huì )自動(dòng)移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。

所屬分類(lèi):電子元器件回收/電子廢料回收

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