供應商 | 江蘇天瑞儀器股份有限公司 店鋪 |
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報價(jià) | 面議 |
關(guān)鍵詞 | 天瑞光譜儀,國產(chǎn)光譜儀,江蘇天瑞光譜儀,天瑞儀器 |
所在地 | 江蘇蘇州昆山市中華園西路1888號 |
9年
手持式XRF分析儀可對汽車(chē)中的涂覆層構件的涂覆層厚度進(jìn)行準確的測試。且具有測試結果、穩定性好、測試范圍廣的優(yōu)點(diǎn)。對汽車(chē)的金屬鍍件進(jìn)行測試,器件為鐵鍍銅鍍鎳鍍鉻樣品,由于樣品體積較大無(wú)法使用臺式機測試,使用天瑞手持式鍍層測厚儀產(chǎn)品進(jìn)行測試。
鍍層厚度是衡量電鍍層品質(zhì)的重要指標之一。所以鍍層行業(yè)的人士都會(huì )采用無(wú)損的測量辦法進(jìn)行厚度檢測。
鍍層測厚儀的基本作用就是幫助電鍍行業(yè)(或其他行業(yè))測量基材上的鍍層厚度,鍍層測厚儀具有較寬的測量范圍和較寬的測量量程,所以電鍍行業(yè)以外的測量,比如說(shuō)防腐涂層、油漆鍍層、搪瓷防護層、橡膠覆層等都可以使用。
對于電鍍行業(yè)來(lái)說(shuō),電鍍工藝不僅僅取決于技術(shù)水平和穩定程度,更重要的是對鍍層厚度的準確把握。因為鍍層的厚度關(guān)乎著(zhù)視覺(jué)感受與使用體感。而且在實(shí)際電鍍工作中,影響到鍍層厚度的環(huán)境因素也非常多。這些內在性和外在性的影響因素極易造成電鍍層距離標準值出現大小不一的偏差,因而鍍層測厚儀的重要地位不言而喻。
半導體膜厚測試儀是一種用于測量半導體材料薄膜厚度的儀器。它通常使用光學(xué)或X射線(xiàn)技術(shù)來(lái)獲取薄膜的厚度數據。該儀器可以用于研究和生產(chǎn)中的半導體材料,以確保薄膜的厚度符合設計要求,并且可以幫助改善薄膜生長(cháng)和表征過(guò)程。半導體膜厚測試儀在半導體工業(yè)中起著(zhù)至關(guān)重要的作用,能夠提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。
所屬分類(lèi):分析儀器/X射線(xiàn)儀器
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