供應商 | 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司 店鋪 |
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認證 | |
報價(jià) | 面議 |
關(guān)鍵詞 | SEM掃描,掃描電鏡,掃描電鏡分析,SEM測試 |
所在地 | 江蘇省昆山市玉山鎮南淞路299號 |
4年
掃描電鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),可用于對形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀(guān)察。相比于傳統的透射電鏡,SEM不需要樣本薄片,可以直接對樣品進(jìn)行觀(guān)察,因此適用于分析各種形狀和大小的樣品。 SEM分析過(guò)程中,樣品表面被電子束轟擊后,會(huì )產(chǎn)生二次電子和背散射電子。這些電子會(huì )被探測器捕捉并轉換為電信號,形成圖像。SEM圖像具有高分辨率和高對比度,可以顯示出樣品表面的微觀(guān)結構和形貌特征
優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心具備掃描電鏡分析能力(SEM&EDS分析),可針對表面異物分析、IMC形貌觀(guān)察、錫須觀(guān)察、焊點(diǎn)失效分析等進(jìn)行分析測試。放大倍率可達30萬(wàn)倍;EDS通過(guò)樣品表面激發(fā)出的特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息,準確精度達0.5%。該機臺是質(zhì)量檢驗、失效分析中不可缺少的設備
SEM+EDS分析:
高能電子束轟擊樣品表面,激發(fā)各種信號??梢詫μ沾?、金屬、粉末、塑料等樣品進(jìn)行形貌觀(guān)察及成分分析:
SEM主要利用背散射電子(BEI)和二次電子(SEI)來(lái)成像
EDS通過(guò)特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。
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產(chǎn)品名:低溫測試,優(yōu)爾鴻信