配合不同探測器的選擇，使Sigma 廣泛地適用于您的應用：無(wú)論是正在開(kāi)發(fā)的新材料、用于質(zhì)量檢查的顆粒還是生物或地質(zhì)標本，該電鏡可助您研究各種樣品。在極端條件下，利用可變壓力（VP）成像，借助NanoVPlite，即使在低電壓下，也能在非導體上獲得出色的圖像和分析結果。

STEM探測器和經(jīng)典的極靴下背散射電子探測器類(lèi)似，一般也采用半導體材質(zhì)，并分割為好幾塊，
其中一塊位于樣品的正下方，主要用于接收正透過(guò)樣品的透射電子，即所謂的明場(chǎng)模式；還有的位于明場(chǎng)探測器的周?chē)?，接收?jīng)過(guò)散射的透射電子，即所謂的暗場(chǎng)模式。

掃描電鏡及X射線(xiàn)能譜儀或電子探針為準確鑒定鋼中非金屬夾雜物屬性提供了非?？煽康募夹g(shù)，他可以將D類(lèi)等非金屬夾雜物的二維和三維形貌、與所含元素的X射線(xiàn)元素面分布圖、與其內含有元素或所含簡(jiǎn)單氧化物的重量百分數和原子百分數定量分析結果有機結合起來(lái)，對這種D類(lèi)非金屬夾雜物給出一個(gè)全新的詮釋。由此，作者提出了非金屬夾雜物的相結構概念，用“復相夾雜物”代替目前常用的“復雜夾雜物”或“復合夾雜物”，重新認識這個(gè)對鋼性能有重要影響的D類(lèi)非金屬夾雜物，與業(yè)界同行商榷。

蔡司 Lightsheet Z.1 恰恰能實(shí)現這一切。的多視角激光片層掃描顯微成像系統（Light Sheet Microscopy）能夠記錄大型活體樣品的發(fā)育過(guò)程，對樣品低損傷地成像，提供更多的信息。
成像速度極快：Lightsheet Z.1 是一款能以極快速度獲取光學(xué)切片的顯微工具，可讓您以亞細胞分辨率獲得完整的樣品圖像，耗時(shí)卻遠少于采用其它技術(shù)所需的時(shí)間。

組織透明處理技術(shù)能夠讓您深入大型生物樣品內，例如：組織切片、大腦、胚胎、器官球狀體或活組織切片。您可以使用增強的光學(xué)穿透深度來(lái)捕獲整個(gè)器官的熒光信號。這也令其成為一項具有發(fā)展前景的技術(shù)，例如：檢測小鼠大腦神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò )。

電子經(jīng)過(guò)一系列電磁透鏡成束后，打到樣品上與樣品相互作用，會(huì )產(chǎn)生二次電子、背散射電子、俄歇電子以及X射線(xiàn)等一系列信號。所以需要不同的探測器譬如二次電子探測器、X射線(xiàn)能譜分析儀等來(lái)區分這些信號以獲得所需要的信息。雖然X射線(xiàn)信號不能用于成象，但習慣上，仍然將X射線(xiàn)分析系統劃分到成象系統中。
有些探測器造價(jià)昂貴，比如Robinsons式背散射電子探測器，這時(shí)，可以使用二次電子探測器代替，但需要設定一個(gè)偏壓電場(chǎng)以篩除二次電子。

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