目前來(lái)看，電子產(chǎn)品銷(xiāo)毀公司在進(jìn)行文件銷(xiāo)毀的過(guò)程當中，完全可以用刀割盤(pán)片的方法直接進(jìn)行銷(xiāo)毀，比如他們可以通過(guò)這樣的一種方式，讓整個(gè)硬盤(pán)全部都給損壞，基本上也就是，摧毀了整個(gè)硬盤(pán)上的詞條，這樣的話(huà)，一些小的當然還是有可能有機會(huì )被讀出來(lái)的，但是幾率并不是特別大。

廢舊電子產(chǎn)品處理絕不僅僅是直接填埋或是直接焚毀這么簡(jiǎn)單，因為電子產(chǎn)品中含有大量重金屬，使用這兩種方造成環(huán)境的嚴重破壞，填埋有毒有害玩具會(huì )致使土地資源被污染，嚴重的可能會(huì )污染至地下水；導致喝過(guò)污染水的人畜患上惡性疾病，而焚燒有毒如果沒(méi)有的處理，極易造成大氣污染以及有毒氣體蔓延，造成不可想象的災難，

電子產(chǎn)品的可靠性試驗類(lèi)型：
1、按試驗項目可分為環(huán)境試驗、壽命試驗和特殊試驗；
2、按試驗目的可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗；
3、按試驗性質(zhì)可分為破壞性試驗和非破壞性試驗。

汽車(chē)電子產(chǎn)品的檢測項目：
1、功能/性能測試，車(chē)燈的光學(xué)性能、熱學(xué)性能、車(chē)載系統的使用功能、光學(xué)性能、聲學(xué)功能等；
2、環(huán)境與可靠性測試，加速壽命測試、高低溫測試、振動(dòng)測試等；
3、環(huán)保與化學(xué)測試，RoHS檢測、揮發(fā)性有機物檢測等；
4、電磁兼容測試，發(fā)射、傳導發(fā)射、抗擾度、傳導抗擾度、傳導瞬態(tài)發(fā)射、傳導瞬態(tài)抗擾度等。

電子產(chǎn)品檢測中心告訴您：電子產(chǎn)品質(zhì)量檢驗都測試些什么東西
1、濕熱試驗
濕度范圍：30%RH～RH。
2、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 沖擊試驗》開(kāi)展沖擊試驗。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
3、低溫試驗
溫度范圍：-70℃～10℃。
4、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 傾跌與翻到試驗》；
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 自由跌落試驗》開(kāi)展跌落試驗。
5、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 碰撞試驗》開(kāi)展碰撞試驗。
6、低氣壓試驗
開(kāi)展低氣壓試驗，高、低溫/低氣壓試驗。范圍：70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動(dòng)試驗
頻率范圍（機械振動(dòng)臺）：5～60Hz（定頻振動(dòng)5～80Hz），位移振幅3.5mm（滿(mǎn)載）。頻率范圍（電磁振動(dòng)臺）：5～3000Hz，位移25mmP-P。
8、高溫試驗
溫度范圍：10℃～210℃。
9、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 鹽霧試驗》開(kāi)展鹽霧試驗。
10、霉菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方式 長(cháng)霉試驗》開(kāi)展霉菌試驗。
我們經(jīng)常會(huì )遇到例如電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測電子產(chǎn)品是否接觸不良、是否有噪音、表面是否銹蝕、開(kāi)裂、變形等情況，這時(shí)我們需要采用的儀器抗壓測試儀，絕緣電阻，波形采用的是示波器；電流/電壓等用萬(wàn)用電表等來(lái)做電子產(chǎn)品檢測！

電子產(chǎn)品可靠性檢測機構-找訊科標準
可靠性測試
目前，國內汽車(chē)電子產(chǎn)品可靠性通用的可靠性測試手段，一般是在研發(fā)時(shí)采用傳統的性能各異的溫濕度箱來(lái)驗證提高產(chǎn)品的可靠性性能;在線(xiàn)生產(chǎn)采用的是老化壽命(即高溫等)的傳統測試方法。僅依靠以上這些傳統的測試手段，要達到目前國外汽車(chē)電子產(chǎn)品的技術(shù)指標，尚存在著(zhù)一定的困難。
產(chǎn)品都有其缺陷所在，當這些故障發(fā)生時(shí)產(chǎn)品往往已超過(guò)了時(shí)效，尤其是配套應用在汽車(chē)上的汽車(chē)電子產(chǎn)品可靠性，如DVD﹑汽車(chē)音響﹑多媒體接收系統等。如果不能在早期發(fā)現并解決潛藏在這些電子產(chǎn)品中的問(wèn)題，而等其裝配到汽車(chē)上，用戶(hù)使用一段時(shí)間后才讓問(wèn)題慢慢顯露出來(lái)，則會(huì )給制造商和用戶(hù)帶來(lái)大的損失。解決問(wèn)題，先要發(fā)現問(wèn)題的所在，借由增加外部環(huán)境應力﹑強迫故障提早暴露出來(lái)，是早期發(fā)現和解決問(wèn)題的一個(gè)有效方法。
汽車(chē)電子可靠性的主要測試功能如下：
* 利用高環(huán)境應力將產(chǎn)品設計缺陷激發(fā)出來(lái)，并加以改善;
* 了解產(chǎn)品的設計能力及失效模式;
* 作為高應力篩選及稽核規格制定的參考;
* 快速找出產(chǎn)品制造過(guò)程的瑕疵;
* 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本;
* 建立產(chǎn)品設計能力數據庫，為研發(fā)提供依據并可縮短設計制造周期。
在汽車(chē)電子可靠性試驗中可找到被測物在溫度及振動(dòng)應力下的可操作界限與破壞界限。此實(shí)驗所用設備為QualMark公司所設計的綜合環(huán)境試驗機(OVS Combined Stress System)，溫度范圍為-100℃～+200℃，溫度變化速率為60℃/min，加速度可到60Grms，而且振動(dòng)機與溫度箱合二為一的設計可同時(shí)對被測物施加溫度與振動(dòng)應力。以下就四個(gè)試程的一般情況分別加以說(shuō)明：
(1)溫度應力
此項試驗分為低溫及高溫兩個(gè)階段應力。先執行低溫階段應力，設定起始溫度為20℃，每階段降溫10℃，階段溫度穩定后維持10min，之后在階段穩定溫度下執行至少一次的功能測試，如一切正常則將溫度再降10℃，并待溫度穩定后維持10min再執行功能，依此類(lèi)推直至發(fā)生功能故障，以判斷是否達到操作界限或破壞界限;在完成低溫應力試驗后，可依相同程序執行高溫應力試驗，即將綜合環(huán)境應力試驗機自20℃開(kāi)始，每階段升溫10℃，待溫度穩定后維持10min，而后執行功能測試直到發(fā)現高溫操作界限及高溫破壞界限為止。

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