?世通儀器檢測在全國有多個(gè)實(shí)驗室（廣東，江蘇，陜西，河南，重慶，四川，福建等等）均可上門(mén)檢測，校準證書(shū)帶標，出證書(shū)快，證書(shū)可加急，報價(jià)流程：發(fā)公司名稱(chēng)和儀器清單或者儀器圖片量程-收到清單開(kāi)始報價(jià)-價(jià)格合適預排時(shí)間上門(mén)檢測-檢測好1-5天出證書(shū)-寄回證書(shū)-轉款。歡迎來(lái)電咨詢(xún)：陳工
真空壓力表 以大氣壓力為基準，用于測量小于大氣壓力的儀表。真空壓力表適用測量無(wú)爆炸，不結晶，不凝固，對銅和銅合金無(wú)腐蝕作用的液體、氣體的真空壓力測量。廣泛應用于氣體輸送，管道液體及密閉容器中測量無(wú)腐蝕性、無(wú)爆炸危險、無(wú)結晶體、不凝固體的各種液體、氣體、蒸汽等介質(zhì)的壓力大小，如各種工業(yè)自控環(huán)境，涉及石油管道、水利水電、鐵路交通、智能建筑、生產(chǎn)自控、航空航天、軍工、石化、油井、電力、船舶、機床、管道送風(fēng)、真空設備等眾多行業(yè) 壓力表型號規格齊，壓力表精度等級齊,壓力表量程齊，壓力表接頭齊，壓力表價(jià)格齊?？梢灾谱鞒赡驼鹫婵諌毫Ρ?，不銹鋼真空壓力表，隔膜真空壓力表，電接點(diǎn)真空壓力表，數字真空壓力表等真空壓力表。
真空表：以大氣壓力為基準，用于測量小于大氣壓力的儀表。
壓力真空表：以大氣壓力為基準，用于測量大于和小于大氣壓力的儀表。
壓力真空表和真空表用于測量對鋼，銅及銅合金無(wú)腐蝕作用，無(wú)爆炸危險的不結晶，不凝固的液體，氣體或蒸汽介質(zhì)的壓力或負壓。
耐震真空表用于振動(dòng)和壓力有波動(dòng)下，測量無(wú)腐蝕，無(wú)結晶的介質(zhì)的負壓。
電接點(diǎn)壓力真空表和電接點(diǎn)真空表銅及銅合金無(wú)腐蝕作用，無(wú)爆炸危險的非結晶不凝固的液體，氣體等介質(zhì)的（壓力）和負壓。當壓力達到預定值時(shí)，借助接點(diǎn)裝置，能接通或斷開(kāi)控制電路，同時(shí)發(fā)出電信號。
電接點(diǎn)壓力真空表用于測量銅及銅合金無(wú)腐蝕作用，無(wú)爆炸危險的非結晶不凝固的液體，氣體等介質(zhì)的壓力和負壓。當壓力和負壓達到預定值時(shí)，利用磁力電接點(diǎn)裝置能接通或斷開(kāi)控制電路
電接點(diǎn)真空表用于測量銅及銅合金無(wú)腐蝕作的液體，氣體或蒸汽的負壓。并在負壓達到預定值時(shí)發(fā)出電信號，接通或斷開(kāi)控制電路。
不銹鋼真空表和不銹鋼壓力真空表用于測量對不銹鋼316，316L及0Crl8Ni12MO2Ti無(wú)腐蝕作用的液體，氣體介質(zhì)的壓力和負壓，全不銹對環(huán)境有更強的耐蝕能力。
耐酸壓力真空表用于測量硝酸及堿類(lèi)液體介質(zhì)的壓力和負壓；耐酸真空表用于測量硝酸及堿類(lèi)液體的負壓。真空壓力傳感器的工作原理是介質(zhì)的壓力直接作用在傳感器的膜片上，使膜片產(chǎn)生與介質(zhì)壓力成正比的微位移，使傳感器的電阻發(fā)生變化，和用電子線(xiàn)路檢測這一變化，并轉換輸出一個(gè)對應于這個(gè)壓力的標準信號。真空壓力表是一種常用的測量?jì)x器，在很多的領(lǐng)域當中都有一定的應用。用戶(hù)在使用真空壓力表的時(shí)候需要注意的問(wèn)題也是很多的。例如測量的范圍、溫度等多種的問(wèn)題 [3] ：
1、儀表使用環(huán)境溫度為-40~70℃,相對濕度不大于80%,如偏離正常使用溫度20℃時(shí)，須計入溫度附加誤差。 2、儀表垂直安裝，力求與測保持同一水平，如相差過(guò)高計入液柱所引起的附加誤差，測量氣體時(shí)可不必考慮。安裝時(shí)將表殼后部防爆口阻塞，以免影響防爆性能。
3、儀表正常使用的測量范圍：在靜壓下不超過(guò)測量上限的3/4，在波動(dòng)下不應超過(guò)測量上限的2/3。在上述兩種壓力情況下大壓力表測量低都不應低于下限的1/3，測量真空時(shí)真空部分全部使用。
4、使用時(shí)如遇到儀表指針失靈或內部機件松動(dòng)、不能正常工作等故障時(shí)應進(jìn)行檢修，或聯(lián)系生產(chǎn)廠(chǎng)家維修。
5、儀表應避免震動(dòng)和碰撞，以免損壞。

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耐磨試驗機，用于印刷品印刷墨層耐磨性、PS版感光層耐磨性及相關(guān)產(chǎn)品表面涂層耐磨性的測試試驗。有效分析印刷品的抗擦性差、墨層膜脫落、PS版的耐印力低及其它產(chǎn)品的涂層硬度差等問(wèn)題。根據設備符合的標準不同，可分為：
國標耐磨試驗機
美標耐磨試驗機符合國標的耐磨試驗機適用于印刷品印刷墨層耐磨性、PS版感光層耐磨性及相關(guān)產(chǎn)品表面涂層耐磨性的測試試驗。

技術(shù)特征
儀器嚴格按照標準設計，有效地確保了測試數據的準確性
系統采用微電腦控制，搭配PVC操作面板，薄膜按鍵開(kāi)關(guān)和液晶顯示屏，方便用戶(hù)快速便捷地進(jìn)行試驗操作和數據查看
內嵌式標準摩擦臺均勻的摩擦面積，并且摩擦過(guò)程完全靜音運行
掉電記憶的特設計為用戶(hù)提供了安全的數據操作環(huán)境
技術(shù)指標
磨擦壓力：20±0.2 N
磨擦速度：3 cpm
磨擦面積：155 mm(L) × 50 mm(W)
磨擦次數：0～999
試樣尺寸：230 mm(L) × 50 mm(W)
電源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：260 mm(L) × 230 mm(W) × 360 mm(H)
凈重：22Kg
美標版編輯 語(yǔ)音
符合美標的耐磨試驗機適用于印刷品印刷墨層耐磨性、PS版感光層耐磨性及相關(guān)產(chǎn)品表面涂層耐磨性的測試試驗。有效分析印刷品的抗擦性、墨層牢度及其它產(chǎn)品的涂層硬度等問(wèn)題。

技術(shù)特征
系統提供干磨擦、濕磨擦、遷移、濕跡四種試驗功能以及四種不同的試驗速度，用戶(hù)可根據不同的測試需要自由選擇
雙工位、弧線(xiàn)運動(dòng)的特結構，支持相同或不同試樣同時(shí)進(jìn)行各種組合測試
掉電記憶、蜂鳴提示等智能設計用戶(hù)的操作安全
系統采用微電腦控制，搭配PVC操作面板，菜單式界面和液晶顯示屏，方便用戶(hù)快速便捷地進(jìn)行試驗操作和數據查看
執行標準
ASTM D5264、TAPPI T830
技術(shù)指標
磨擦壓力：8.9 N（2lb）；17.8N（4lb）
磨擦速度：21、42、85、106 cpm
磨擦方式：弧線(xiàn)往復
磨擦次數：0～999999
試樣件數：1～2件
電源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：485 mm(L) × 390 mm(W) × 230 mm(H)
凈重：40Kg
儀器配置
標準配置：主機、8.9N（2lb）荷重塊

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顯微鏡是由一個(gè)透鏡或幾個(gè)透鏡的組合構成的一種光學(xué)儀器，是人類(lèi)進(jìn)入原子時(shí)代的標志。 [1] 主要用于放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。顯微鏡分光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡：光學(xué)顯微鏡是在1590年由荷蘭的詹森所?，F在的光學(xué)顯微鏡可把物體放大1600倍，分辨的小極限達波長(cháng)的1/2，國內顯微鏡機械筒長(cháng)度一般是160毫米。對顯微鏡研制，微生物學(xué)有貢獻的人為列文虎克，荷蘭籍人。顯微鏡是人類(lèi)偉大的發(fā)明之一。在它發(fā)明出來(lái)之前，人類(lèi)關(guān)于周?chē)澜绲挠^(guān)念局限在用肉眼，或者靠手持透鏡幫助肉眼所看到的東西。
顯微鏡把一個(gè)全新的世界展現在人類(lèi)的視野里，人們次看到了數以百計的“新的”微小動(dòng)物和植物，以及從人體到植物纖維等各種東西的內部構造。顯微鏡還有助于科學(xué)家發(fā)現新物種，有助于醫生治療疾病。
早的顯微鏡是16世紀末期在荷蘭制造出來(lái)的。是亞斯·詹森,荷蘭眼鏡商，或者另一位荷蘭科學(xué)家漢斯·利珀希，他們用兩片透鏡制作了簡(jiǎn)易的顯微鏡，但并沒(méi)有用這些儀器做過(guò)任何重要的觀(guān)察。
后來(lái)有兩個(gè)人開(kāi)始在科學(xué)上使用顯微鏡。個(gè)是意大利科學(xué)家伽利略。他通過(guò)顯微鏡觀(guān)察到一種昆蟲(chóng)后，次對它的復眼進(jìn)行了描述。第二個(gè)是荷蘭亞麻織品商人列文虎克（1632年-1723年），他自己學(xué)會(huì )了磨制透鏡。他次描述了許多肉眼所看不見(jiàn)的微小植物和動(dòng)物。1931年，恩斯特·魯斯卡通過(guò)研制電子顯微鏡，使生物學(xué)發(fā)生了一場(chǎng)革命。這使得科學(xué)家能觀(guān)察到像百萬(wàn)分之一毫米那樣小的物體。1986年他被授予諾貝爾獎。
顯微鏡結構編輯 語(yǔ)音
簡(jiǎn)易顯微鏡結構圖
簡(jiǎn)易顯微鏡結構圖(3張)
光學(xué)顯微鏡由目鏡，物鏡，粗準焦螺旋，細準焦螺旋，壓片夾，通光孔，遮光器，轉換器，反光鏡；載物臺，鏡臂，鏡筒，鏡座，聚光器，光闌組成。顯微鏡以顯微原理進(jìn)行分類(lèi)可分為偏光顯微鏡、光學(xué)顯微鏡與電子顯微鏡和數碼顯微鏡。
偏光顯微鏡
偏光顯微鏡
偏光顯微鏡
偏光顯微鏡（Polarizing microscope）是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡，在地質(zhì)學(xué)等理工科中有重要應用。凡具有雙折射的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質(zhì)也可用染色法來(lái)進(jìn)行觀(guān)察，但有些則不可用，而利用偏光顯微鏡。反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的儀器， 可供廣大用戶(hù)做單偏光觀(guān)察，正交偏光觀(guān)察，錐光觀(guān)察。
光學(xué)顯微鏡
通常皆由光學(xué)部分、照明部分和機械部分組成。無(wú)疑光學(xué)部分是為關(guān)鍵的，它由目鏡和物鏡組成。早于1590年，荷蘭和意大利的眼鏡制造者已經(jīng)造出類(lèi)似顯微鏡的放大儀器。光學(xué)顯微鏡的種類(lèi)很多，主要有明視野顯微鏡（普通光學(xué)顯微鏡）、暗視野顯微鏡、熒光顯微鏡、相差顯微鏡、激光掃描共聚焦顯微鏡、偏光顯微鏡、微分干涉差顯微鏡、倒置顯微鏡。
電子顯微鏡
電子顯微鏡有與光學(xué)顯微鏡相似的基本結構特征，但它有著(zhù)比光學(xué)顯微鏡高得多的對物體的放大及分辨本領(lǐng)，它將電子流作為一種新的光源，使物體成像。自1938年Ruska發(fā)明臺透射電子顯微鏡至今，除了透射電鏡本身的性能不斷的提高外，還發(fā)展了其他多種類(lèi)型的電鏡。如掃描電鏡、分析電鏡、壓電鏡等。結合各種電鏡樣品制備技術(shù)，可對樣品進(jìn)行多方面的結構 或結構與功能關(guān)系的深入研究。顯微鏡被用來(lái)觀(guān)察微小物體的圖像。常用于生物、醫藥及微小粒子的觀(guān)測。電子顯微鏡可把物體放大到200萬(wàn)倍。
臺式顯微鏡,主要是指傳統式的顯微鏡,是純光學(xué)放大，其放大倍率較高，成像質(zhì)量較好，但一般體積較大,不便于移動(dòng),多應用于實(shí)驗室內,不便外出或現場(chǎng)檢測。
便攜式顯微鏡
一臺的顯微鏡,及其配件.
一臺的顯微鏡,及其配件.
便攜式顯微鏡,主要是近幾年發(fā)展出來(lái)的數碼顯微鏡與視頻顯微鏡系列的延伸。和傳統光學(xué)放大不同,手持式顯微鏡都是數碼放大,其一般追求便攜,小巧而,便于攜帶;且有的手持式顯微鏡有自己的屏幕,可脫離電腦主機立成像,操作方便,還可集成一些數碼功能,如支持拍照,錄像,或圖像對比,測量等功能。
數碼液晶顯微鏡，早是由博宇公司研發(fā)生產(chǎn)的，該顯微鏡保留了光學(xué)顯微鏡的清晰，匯集了數碼顯微鏡的強大拓展、視頻顯微鏡的直觀(guān)顯示和便攜式顯微鏡的簡(jiǎn)潔方便等優(yōu)點(diǎn)。
掃描隧道顯微鏡
掃描隧道顯微鏡亦稱(chēng)為“掃描穿隧式顯微鏡”、“隧道掃描顯微鏡”，是一種利用量子理論中的隧道效應探測物質(zhì)表面結構的儀器。它于1981年由格爾德·賓寧（G．Binning）及海因里?！ち_雷爾（H．Rohrer）在IBM位于瑞士蘇黎世的蘇黎世實(shí)驗室發(fā)明，兩位因此與恩斯特·魯斯卡分享了1986年諾貝爾物理學(xué)獎。
它作為一種掃描探針顯微術(shù)工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學(xué)家觀(guān)察和定位單個(gè)原子，它具有比它的同類(lèi)原子力顯微鏡更加高的分辨率。此外，掃描隧道顯微鏡在低溫下（4K）可以利用探針操縱原子，因此它在納米科技既是重要的測量工具又是加工工具。
STM使人類(lèi)次能夠實(shí)時(shí)地觀(guān)察單個(gè)原子在物質(zhì)表面的排列狀態(tài)和與表面電子行為有關(guān)的物化性質(zhì)，在表面科學(xué)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的研究中有著(zhù)重大的意義和廣泛的應用前景，被國際科學(xué)界公認為20世紀80年代世界科技成就之一。
發(fā)展歷史
早在公元世紀，人們就已發(fā)現通過(guò)球形透明物體去觀(guān)察微小物體時(shí)，可以使其放大成像。后來(lái)逐漸對球形玻璃表面能使物體放大成像的規律有了認識。
1590年，荷蘭Z·Jansen(詹森)和意大利人的眼鏡制造者已經(jīng)造出類(lèi)似顯微鏡的放大儀器。
1611年，Kepler(克卜勒)：提議復合式顯微鏡的制作方式。
1665年，R·Hooke(羅伯特·胡克)：「細胞」名詞的由來(lái)便由胡克利用復合式顯微鏡觀(guān)察軟木的木栓組織上的微小氣孔而得來(lái)的。
1674年，A·V·Leeuwenhoek(列文虎克)：發(fā)現原生動(dòng)物學(xué)的報導問(wèn)世，并于九年后成為發(fā)現「細菌」存在的人。
1833年，Brown(布朗)：在顯微鏡下觀(guān)察紫羅蘭，隨后發(fā)表他對細胞核的詳細論述。
1838年，Schlieden and Schwann(施萊登和施旺)：皆提倡細胞學(xué)原理，其主旨即為「有核細胞是所有動(dòng)植物的組織及功能之基本元素」。
1857年，Kolliker(寇利克)：發(fā)現肌肉細胞中之線(xiàn)粒體。
1876年，Abbe(阿比)：剖析影像在顯微鏡中成像時(shí)所產(chǎn)生的繞射作用，試圖設計出理想的顯微鏡。
生物顯微鏡
生物顯微鏡
1879年，Flrmming(佛萊明)：發(fā)現了當動(dòng)物細胞在進(jìn)行有絲分裂時(shí)，其染色體的活動(dòng)是清晰可見(jiàn)的。
1881年，Retziue(芮祖)：動(dòng)物組織報告問(wèn)世，此項發(fā)表在當世尚凌駕逾越。然而在20年后，卻有以Cajal(卡嘉爾)為首的一群組織學(xué)家發(fā)展出顯微鏡染色觀(guān)察法，此舉為日后的顯微解剖學(xué)立下了基礎。
1882年，Koch(寇克)：利用苯安染料將微生物組織進(jìn)行染色，由此他發(fā)現了霍亂及結核桿菌。往后20年間，其它的細菌學(xué)家，像是Klebs 和 Pasteur(克萊柏和帕斯特)則是藉由顯微鏡下檢視染色藥品而證實(shí)許多疾病的病因。
1886年，Zeiss(蔡司)：打破一般可見(jiàn)光理論上的極限，他的發(fā)明--阿比式及其它一系列的鏡頭為顯微學(xué)者另辟一新的解像天地。
1898年，Golgi(高爾基)：發(fā)現細菌中高爾基體的顯微學(xué)家。他將細胞用硝酸銀染色而成就了人類(lèi)細胞研究上的一大步。
1924年，Lacassagne(蘭卡辛)：與其實(shí)驗工作伙伴共同發(fā)展出放射線(xiàn)照相法，這項發(fā)明便是利用放射性釙元素來(lái)探查生物標本。
1930年，Lebedeff(萊比戴衛)：設計并搭配架干涉顯微鏡。另外由Zernicke(卓尼柯)在1932年發(fā)明出相位差顯微鏡，兩人將傳統光學(xué)顯微鏡延伸發(fā)展出來(lái)的相位差觀(guān)察使生物學(xué)家得以觀(guān)察染色活細胞上的種種細節。
1941年，Coons(昆氏)：將抗體加上螢光染劑用以偵測細胞抗原。
1952年，Nomarski(諾馬斯基)：發(fā)明干涉相位差光學(xué)系統。此項發(fā)明不僅享有專(zhuān)利權并以本人命名之。
1981年，Allen and Inoue(艾倫及艾紐)：將光學(xué)顯微原理上的影像增強對比，發(fā)展趨于境界。
1988年，Confocal(共軛焦)掃描顯微鏡在市場(chǎng)上被廣為使用。
數碼顯微鏡
數碼顯微鏡是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、的光電轉換技術(shù)、液晶屏幕技術(shù)地結合在一起而開(kāi)發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。從而，我們可以對微觀(guān)領(lǐng)域的研究從傳統的普通的雙眼觀(guān)察到通過(guò)顯示器上再現，從而提高了工作效率。